Des mondes possibles
Une exposition d’oeuvres de la collection du 6 avril au 1er septembre 2013
Artistes présentés : Marina Abramovic, Micol Assaël, Richard Baquié, Rosa Barba, Neal Beggs, Nina Beier, Julien Berthier, Etienne Bossut, Robert Breer, Alain Bublex, Balthasar Burkhard, James Lee Byars, Manon De Boer, Philippe Decrauzat, Silvie Defraoui, Simon Faithfull, Mario Garcia Torres, Shilpa Gupta, Jung Hee Choi, Julius Koller, Suzanne Lafont, Didier Marcel, Gianni Motti, Jean-Christophe Norman, Hans Schabus, Gregor Schneider, Georgina Starr, Laurent Tixador
Le public découvrira une sélection d’oeuvres du Frac Franche-Comté en relation avec la question du Temps, thématique centrale pour l’enrichissement de la collection depuis 2006. Partant de la théorie des mondes possibles, l’exposition propose d’envisager chacun des éléments qui la composent comme un monde en soi doté d’une logique interne et susceptible de « re-former, trans-former » notre vision du monde dans lequel nous vivons. Ces mondes en soi que sont les oeuvres choisies et qui possèdent leurs propres règles et logiques, se développent respectivement dans un espace-temps spécifique, interrogeant chacune à leur manière non seulement la dimension temporelle mais aussi leur propre temporalité.
Il s’agira donc de proposer au visiteur un parcours dans le temps ou plutôt au sein de la double acception du temps, physique et psychologique – la première relevant de la mesure du temps, des sciences physiques, la seconde de la durée, du temps ressenti, vécu – via des oeuvres qui le questionnent.
test pattern [no 4]
Ryoji Ikeda du 6 avril au 25 août 2013
test pattern [no 4] de Ryoji Ikeda est une oeuvre inédite produite par le Frac à l’occasion de son ouverture au public.
Compositeur et artiste visuel japonais établi à Paris, Ryoji Ikeda poursuit l’exploration des sonorités, du temps et de l’espace en fondant ses oeuvres sur les mathématiques. test pattern est un système qui convertit n’importe quel type de données (textes, sons, photos et films) en code-barres et schémas binaires compris entre 0 et 1. A travers cette application, le projet vise à examiner la relation entre les points critiques du dispositif de performance et le seuil de perception humaine.
